- ISO 14880-3:2006
- изд.1 G TC 172/SC 9Оптика и фотоника. Матрица микролинз. Часть 3. Методы определения оптических свойств, кроме аберрации волнового фронта—————раздел 31.260
Стандарты Международной организации по стандартизации (ИСО). Каталог (в 2-х частях). — М.: ФГУП «СТАНДАРТИНФОРМ». 2008.